Инфракрасный
Фурье-спектрометр Vertex 70 с приставками |
|
| Назначение:
спектрально-структурный анализ и идентификация веществ.
Технические характеристики:
- спектральный диапазон — 7 500?380 см?1;
- разрешение (по критерию Рэлея) — 0.5 1/см;
- соотношение сигнал/шум — 30 000:1;
- макс. скорость сканирования — 30 скан/с;
- относительная фотометрическая
погрешность не более 0.2 %.
Год выпуска:
2004
|
 |
| Масс-спектрометр
Elan 9000 |
|
Назначение: высокочувствительный
элементный анализ объектов разной природы.
Технические характеристики:
- пределы обнаружения большинства элементов на уровне
1- 10 нг/л (1ppt);
- динамический диапазон определяемых концентраций
8 десятичных порядков;
- стабильность шкалы масс: дрейф менее 0.05 а.е.м.
за 24 часа;
- точность изотопного анализа (Ag) 0.2 % отн.
Год выпуска:
2004
|
|
| Универсальный
микроскоп Eclipse 80i |
|
| Назначение:
микробиологические, гидробиологи ческие, микологические,
альгологические исследования. Технические
характеристики:
- общее увеличение до 2000 раз;
- объективы ахромат и апохромат;
- профессиональная цифровая камера
14 Mpix;
- программное обеспечение.
Год выпуска:
2004
|
|
Хроматограф газовый аналитический «Цвет-800»
|
|
Назначение: высокоточное определение
ксенобиотиков и других вредных веществ малой концентрации.
Технические характеристики:
- ПИД по гептану 4*10-12 г/см3 0/100 % ,
ОСКО <=2 %;
- ДПР по линдану 4*10-14 г/см3 0/100 %,
ОСКО <=4 %;
- программное обеспечение.
Год выпуска:
1999
|
|
| Система
капиллярного электрофореза Капель-103 Р
|
|
| Назначение:
разделение и анализ компонентов сложных смесей биологических
проб и объектов окружающей среды. Технические
характеристики:
- при «+» полярности бензойной кислоты
мкг/см3 — 0,8;
- при «+» полярности хлорид – ионов
мкг/см3 — 0,5;
- диапазон регулир. напряжения, кВ — 1-25
- СКО — 10 %.
Год выпуска:
2001
|
|
| Спектрофотометр
атомно-абсорбционный «Сатурн-3» с комплексом «Графит»-2
|
|
Назначение: определение элементного состава
и концентрации отдельных элементов в жидких и твердых
пробах. Технические
характеристики:
- спектральный диапазон от 190 до 855 nm;
- диапазон измерения оптической плотности
от 0 до IВ;
- диапазон температур атомизирующей
ячейки от 40 до 3070 оС;
- длительность шага нагрева — 0-799 с.
Год выпуска:
1998
|
|
Общая характеристика
состояния оборудования
Oборудование
ЦКП закуплено в последние 8 лет и находится в хорошем
состоянии. Оно позволяет проводить исследования особенностей
структуры и строения различных соединений и материалов,
процессов их взаимодействия с электромагнитным излучением
в широком спектральном диапазоне, выявлять фундаментальные
закономерности в ряду “состав-структура-свойство”. Это
имеет важное значение как для развития современной науки
о строении вещества, так и для технологий создания новых
перспективных материалов. Оборудование ЦКП полностью соответствует
требованиям, предъявляемым к приборам и установкам для
проведения фундаментальных и прикладных исследований.
Вместе с тем, следует отметить, что возможности использования
оборудования ограничены сложностями процессов подготовки
проб. Приобретение вспомогательных элементов, оборудования
и методик позволит существенно расширить возможности использования
и область применения оборудования, повысить информационную
ценность и расширить спектр научных исследований ЦКП.
Возможная область расширения
работ
Расширение выполняемых
центром работ возможно при доукомплектации атомно-абсорбционного
спектрофотометра «Сатурн-3» с комплексом «Графит»-2 лампами
специального назначения и другим оборудованием. Для расширения
функциональных возможностей использования масс-спектрометра
Еlan 9000 потребуется переоборудование лабораторных помещений
в соответствии с нормами, предъявляемыми к «чистым комнатам».
Это позволит существенно расширить перечень исследуемых
веществ методом ICP-MS. Приобретение в перспективе сканирующего
волнодисперсного рентгеновского спектрометра (рентгенофлуориметра)
и спектрофлуориметра существенно расширит функциональные
возможности ЦКП в области исследования состава и свойств
вещества, в частности, биологических объектов. Расширение
возможностей использования методов неразрушающего контроля
и исследования механических свойств материалов возможно
при приобретении соответствующего оборудования и методик
для проведения измерений.
|
